[实用新型]PTC/NTC双控温控制装置有效

专利信息
申请号: 201320443970.X 申请日: 2013-07-24
公开(公告)号: CN203480335U 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 彭凯文 申请(专利权)人: 彭凯文
主分类号: G05D23/19 分类号: G05D23/19
代理公司: 余姚德盛专利代理事务所(普通合伙) 33239 代理人: 胡小永
地址: 343811 江西省*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型公开一种PTC/NTC双控温控制装置,包括控制器和发热体,控制器包含:微处理器、直流电压电路、同步信号电路、档位设置、按键功能选择、基准电压、指示电路、第一比较器、第二比较器、第三比较器、NTC负载检测、NTC电压取样、光耦电路、PTC电压取样和可控硅电路;发热体包括PTC发热线、NTC层、金属线;保险丝、PTC发热线、工作可控硅、PTC电压取样、第一比较器、基准电压配合微处理器完成第一控温;NTC层与金属线、NTC电压取样、第二比较器、基准电压配合微处理器完成第二控温;NTC负载检测与金属线、光耦电路、第三比较器、基准电压配合微处理器检测金属线任意一处断开情况,防止过热现象。
搜索关键词: ptc ntc 温控 装置
【主权项】:
一种PTC/NTC双控温控制装置,包括控制器和发热体,其中控制器包括微处理器、直流电压电路、同步信号电路、档位设置、按键功能选择、基准电压电路、指示电路,发热体包括PTC发热线、NTC层、金属线;其特征在于:所述控制器还包括第一比较器、第二比较器、第三比较器、NTC负载检测、NTC电压取样、光耦电路、PTC电压取样和可控硅电路;第一比较器:该电路一端与PTC电压取样相接,另一端与基准电压相接,输出端与微处理器相接;第二比较器:该电路一端与基准电压相接,另一端与NTC电压取样相接,输出端与微处理器相接;第三比较器:该电路一端与基准电压相接,另一端与NTC负载检测相接,输出端与微处理器相接;NTC负载检测:该电路一端与第三比较器相接,另一端与金属线相接;NTC电压取样:该电路一端与第二比较器相接,另一端与金属线相接;光耦电路:该电路控制端的一端与微处理器相接,另一端接地;被控制端的一端接交流电源,另一端接金属线;PTC电压取样:该电路一端与第一比较器相接,另一端与工作可控硅一端相接,再一端接地;可控硅电路:该电路一端与微处理相接,另一端与PTC电压取样相接,再一端与PTC发热线相接。
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