[实用新型]用于可靠性测试设备的测试针卡有效
| 申请号： | 201320472575.4 | 申请日： | 2013-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN203479850U | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 金晶;曹刚;葛艳辉 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 殷晓雪 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 申请公开了一种用于可靠性测试设备的测试针卡，所述测试针卡具有16个测试引脚，其中14个测试引脚呈一字排列，称为第一排；另2个测试引脚也呈一字排列，称为第二排；并且第二排的2个测试引脚与第一排的最后2个测试引脚排列为2×2的形态。本申请所设计的测试针卡可以对两种测试结构进行可靠性测试，并且两部分引脚保持相对独立。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 可靠性 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种用于可靠性测试设备的测试针卡，其特征是，所述测试针卡具有16个测试引脚，其中14个测试引脚呈一字排列，称为第一排；另2个测试引脚也呈一字排列，称为第二排；并且第二排的2个测试引脚与第一排的最后2个测试引脚排列为2×2的形态。
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