[实用新型]微粉粒度检测系统有效
| 申请号： | 201320495345.X | 申请日： | 2013-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN203385640U | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 张海峰;朱明杰;党娟;翟路鹏 | 申请（专利权）人： | 开封万盛新材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 河南科技通律师事务所 41123 | 代理人： | 张建东 |
| 地址： | 475000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种微粉粒度检测系统，解决了为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压，并且不会产生影响粒度分析计数仪测量结果的外部电磁干扰的技术问题。它包括电源、稳压器、粒度分析计数仪、计算机，其中电源与稳压器的输入端连接，稳压器的输出端分别与粒度分析计数仪和计算机连接，计算机与粒度分析计数仪的控制端口相连接，粒度分析计数仪接地。本实用新型微粉粒度检测系统能够为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压，使粒度分析计数仪稳定、正常工作，避免因电压不稳定或外界电磁干扰造成粒度分析计数仪测量结果出现较大误差，保证微粉粒度检测结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 粒度 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种微粉粒度检测系统，包括电源、稳压器、粒度分析计数仪、计算机，其特征在于：所述电源与所述稳压器的输入端连接，所述稳压器的输出端分别与所述粒度分析计数仪和所述计算机连接；所述计算机与所述粒度分析计数仪的控制端口相连接；所述粒度分析计数仪接地。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于开封万盛新材料有限公司，未经开封万盛新材料有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320495345.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
