[实用新型]带有压具的IC芯片测试装置有效
| 申请号： | 201320506221.7 | 申请日： | 2013-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN203551597U | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 周澄良 | 申请（专利权）人： | 合吉利电子科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/27 |
| 代理公司： | 深圳市盈方知识产权事务所(普通合伙) 44303 | 代理人： | 杨贤 |
| 地址： | 518117 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种带有压具的IC芯片测试装置，包括设有至少一个测试单元的主基板，每个测试单元包括有设于所述主基板表面的测试线路、设于所述主基板正面的用于固定待测试芯片的工作台、和设于所述主基板背面的测试芯片，每个测试单元还包括有一组芯片压具，每组芯片压具包括有设于所述工作台上的压杆和设于所述主基板上的第一支撑柱，所述压杆的尾部可旋转地固定于所述第一支撑柱上。本实用新型可方便、快捷、不伤芯片地取放待测试芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 带有 ic 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种带有压具的IC芯片测试装置，包括设有至少一个测试单元的主基板，每个测试单元包括有设于所述主基板表面的测试线路、设于所述主基板正面的用于固定待测试芯片的工作台、和设于所述主基板背面的测试芯片，其特征在于：每个测试单元还包括有一组芯片压具，每组芯片压具包括有设于所述工作台上的压杆和设于所述主基板上的第一支撑柱，所述压杆的尾部可旋转地固定于所述第一支撑柱上。
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