[实用新型]用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置有效
申请号: | 201320529908.2 | 申请日: | 2013-08-28 |
公开(公告)号: | CN203443765U | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 刘文丽;李飞;洪宝玉;张吉焱;马振亚;孙劼 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;A61B3/103 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;张永明 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置。发光装置包括:光源;分划板;发光筒,光源和分划板分别设置在发光筒的两端;安装座,发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。由于本实用新型中的光源和分划板集成在发光装置的发光筒中,因而发光装置既能在光学系统中起到照亮光路的作用,还是光学系统中的目标参考物,从而简化了光学系统的结构,提高了光学系统的工作可靠性。由于设置有分划板的发光筒可枢转地设置在安装座上,因而提高了发光装置的运动自由度,使发光装置可以满足不同光学系统的使用要求,从而扩大了发光装置的使用范围、提高了发光装置的使用可靠性。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 综合 验光 光学 装置 发光 | ||
【主权项】:
一种发光装置,其特征在于,包括:光源(10);分划板(20);发光筒(30),所述光源(10)和所述分划板(20)分别设置在所述发光筒(30)的两端;安装座(40),所述发光筒(30)绕所述发光筒(30)的轴线可枢转地设置在所述安装座(40)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320529908.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。