[实用新型]半导体承载装置的阶级弹性限位结构有效
申请号: | 201320649121.X | 申请日: | 2013-10-18 |
公开(公告)号: | CN203690274U | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 罗郁南 | 申请(专利权)人: | 昆山晨州塑胶有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/68 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提供一种半导体承载装置的阶级弹性限位结构,该阶级弹性限位结构成形于一承载装置的多个凹槽内且包括:多个成形为L形结构的挡块,具有一与该围壁连接的连接段及一与该连接段邻接的抵制段,各该挡块具有相对的顶面及底面,该抵制段于顶面与底面之间成形具有一阶面的阶级结构,该阶面具有一第一壁面与顶面连接以及一第二壁面与底面连接;透过挡块的L形结构形成弹性形变能力,达到确实迫紧定位半导体组件的功效,并经挡块的第一、第二壁面分别与围壁界定可供容置不同尺寸半导体组件的空间,形成定位能力佳且适用性广的半导体组件承载装置。 | ||
搜索关键词: | 半导体 承载 装置 阶级 弹性 限位 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体承载装置的阶级弹性限位结构,为一承载装置具有纵横排列的多个围壁,以及由该多个围壁共同围设成形的多个矩阵排列凹槽,该阶级弹性限位结构成形于该围壁上并位于各该凹槽内;其特征是,各该凹槽的该弹性限位结构包括: 多个挡块,成形为L形结构,各该挡块具有一与该围壁连接的连接段及一与该连接段邻接的抵制段,各该挡块具有相对的一顶面及一底面,该抵制段于该顶面与该底面之间成形有阶级结构,该阶级结构具有一阶面,该阶面具有一第一壁面与该顶面连接,以及一第二壁面与该底面连接,令各该挡块的该底面宽幅大于该顶面宽幅。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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