[实用新型]一种借助精密电子天平测量固体材料密度的装置有效

专利信息
申请号: 201320760620.6 申请日: 2013-11-28
公开(公告)号: CN203858179U 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 孟彬;朱延俊;林作亮;孔明 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01N9/00 分类号: G01N9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 实用新型涉及一种测量固体材料密度的装置,属于实验器械技术领域。结构包括精密电子天平和液体测重装置,液体测重装置由置于透明保护罩中的盛液容器组成,透明保护罩上端开口、底端通过可调节高度的支撑脚固定并保持水平,盛液容器通过高度可调的盛液容器支撑架支撑固定;精密电子天平通过底端的电子天平挂钩悬挂检测试样,并将试样置于盛液容器中,精密电子天平放置于透明保护罩上。该装置与电子天平的连接方式灵活,便于安装、携带,通用性和可移植性强,测量精度性高。
搜索关键词: 一种 借助 精密 电子天平 测量 固体 材料 密度 装置
【主权项】:
一种测量固体材料密度的装置,包括精密电子天平(10)和液体测重装置,其特征在于:液体测重装置由置于透明保护罩(1)中的盛液容器(5)组成,透明保护罩(1)上端开口、底端通过可调节高度的支撑脚(2)固定并保持水平,盛液容器(5)通过高度可调的盛液容器支撑架(7)支撑固定;精密电子天平(10)通过底端的电子天平挂钩(9)悬挂检测试样,并将试样置于盛液容器(5)中,精密电子天平(10)放置于透明保护罩(1)上。
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