[实用新型]智能卡测试适配器有效
| 申请号： | 201320793633.3 | 申请日： | 2013-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN203688593U | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 葛根军;洪世荣;李耿;李志威 | 申请（专利权）人： | 东信和平科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 519060 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种智能卡测试适配器，该智能卡测试适配器包括电路板和与电路板相连的测试针组，当对多芯片智能卡中的芯片进行测试时可移动测试针组，使测试针组与多芯片智能卡中的芯片依次接触，通过电路板与芯片进行信息交互，从而达到对多芯片智能卡中的芯片进行测试的目的，本智能卡测试适配器能够适用于多芯片智能卡，相对于现有技术的智能卡读卡器而言，更具有通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 智能卡 测试 适配器 | ||
【主权项】：
一种智能卡测试适配器，其特征在于，包括： 电路板及安装在所述电路板上且用于测试多芯片智能卡中芯片的测试针组，所述测试针组包括：与所述电路板相连的固定端组；与所述固定端组相连的弹簧组；与所述弹簧组相连的测试端组。
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