[实用新型]液晶显示模组的测试系统有效
| 申请号： | 201320825737.8 | 申请日： | 2013-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN203838439U | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | 康后生;吴德伟 | 申请（专利权）人： | TCL显示科技（惠州）有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 516003 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种液晶显示模组的测试系统，包括：用于测量液晶显示模组的显示参数的光电测试仪、增量型编码模块，包括增量型编码器，所述增量型编码器从给定的基础测试数据开始，以设定的增量产生新的测试数据；测试模块，包括主控芯片、与主控芯片连接的存储单元和与主控芯片连接的液晶驱动单元；所述主控芯片与所述增量型编码模块连接，获取所述增量型编码模块输出的测试数据并控制液晶驱动单元以该测试数据驱动液晶显示模组；所述存储单元用于根据主控芯片的保存命令存储测试数据；所述增量型编码模块还包括保存触发器，所述保存触发器与主控芯片连接，用于触发所述主控芯片生成所述保存命令。上述测试系统测试效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示 模组 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种液晶显示模组的测试系统，包括用于测量液晶显示模组的显示参数的光电测试仪，其特征在于，还包括： 增量型编码模块，包括增量型编码器，所述增量型编码器从给定的基础测试数据开始，以设定的增量产生新的测试数据； 测试模块，包括主控芯片、与主控芯片连接的存储单元和与主控芯片连接的液晶驱动单元；所述主控芯片为ARM芯片； 所述主控芯片与所述增量型编码模块连接，获取所述增量型编码模块输出的测试数据并控制液晶驱动单元以该测试数据驱动液晶显示模组； 所述存储单元用于根据主控芯片的保存命令存储测试数据； 所述增量型编码模块还包括保存触发器，所述保存触发器与主控芯片连接，用于触发所述主控芯片生成所述保存命令。
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