[实用新型]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201320825869.0 申请日: 2013-12-13
公开(公告)号: CN203910809U 公开(公告)日: 2014-10-29
发明(设计)人: 伊藤明 申请(专利权)人: 美国博通公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/10;H01L21/336
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 田喜庆
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 实用新型涉及半导体器件。一种半导体器件包括:第一阱、第二阱和分离结构。第一阱和第二阱被嵌入在半导体衬底中。分离结构也被嵌入在半导体衬底中并且将第一阱和第二阱分离,使得第一阱和第二阱彼此不接触。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
一种半导体器件,其特征在于,包括: 第一阱,嵌入在半导体衬底中; 第二阱,嵌入在所述半导体衬底中;以及 分离结构,嵌入在所述半导体衬底中,将所述第一阱和所述第二阱分离,使得所述第一阱和所述第二阱彼此不接触。 
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