[实用新型]半导体器件有效
申请号: | 201320825869.0 | 申请日: | 2013-12-13 |
公开(公告)号: | CN203910809U | 公开(公告)日: | 2014-10-29 |
发明(设计)人: | 伊藤明 | 申请(专利权)人: | 美国博通公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/10;H01L21/336 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 田喜庆 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本实用新型涉及半导体器件。一种半导体器件包括:第一阱、第二阱和分离结构。第一阱和第二阱被嵌入在半导体衬底中。分离结构也被嵌入在半导体衬底中并且将第一阱和第二阱分离,使得第一阱和第二阱彼此不接触。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,其特征在于,包括: 第一阱,嵌入在半导体衬底中; 第二阱,嵌入在所述半导体衬底中;以及 分离结构,嵌入在所述半导体衬底中,将所述第一阱和所述第二阱分离,使得所述第一阱和所述第二阱彼此不接触。
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