[实用新型]一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈有效
| 申请号： | 201320861368.8 | 申请日： | 2013-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN203658560U | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 宋强;胡健;曾华;黄道平 | 申请（专利权）人： | 宜宾金川电子有限责任公司;宜宾金原复合材料有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/07 | 分类号： | G01R33/07 |
| 代理公司： | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 徐丰;杨保刚 |
| 地址： | 644005*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈，包括非导磁材料制成的绕线盘，绕线盘中轴为空腔结构，绕线盘上绕有线圈，线圈紧密缠绕在绕线盘上，在绕线盘中轴空腔结构内壁上有非导磁材料制成的测试槽，测试槽紧贴在绕线盘内壁与绕线盘轴向方向平行，实施本实用新型，可以测量扁平永磁体单面磁通量，并通过正反两次测量扁平永磁体单面磁通量来检测扁平永磁体两面磁通量的一致性；本实用新型结构简单，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 扁平 永磁体 单面 磁通量 感应 线圈 | ||
【主权项】：
一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈，其特征是：包括非导磁材料制成的绕线盘（1），绕线盘（1）中轴为空腔结构，绕线盘（1）上绕有线圈（3），线圈（3）紧密缠绕在绕线盘（1）上，在绕线盘（1）中轴空腔结构内壁上有非导磁材料制成的测试槽（2），测试槽（2）紧贴在绕线盘（1）内壁与绕线盘（1）轴向方向平行。
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