[实用新型]平面度光学测量设备有效
| 申请号： | 201320875722.2 | 申请日： | 2013-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN203704886U | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 刘建华;彭玮;吴鑫毅;艾晓国;仝敬烁;尹建刚;高云峰 | 申请（专利权）人： | 深圳市大族激光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及光学测量技术领域，具体涉及一种自动化、非接触式的平面度光学测量设备，包括机架，第一驱动装置、测量装置、定位装置以及工控系统；机架上端设有工作台；第一驱动装置设置于工作台上；测量装置与第一驱动装置固定连接；定位装置设置于工作台上；工控系统设置于机架内。本实用新型克服了现有平面度检测方式的缺陷，具有精度高、人为干扰因素小、成本低和效率高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 光学 测量 设备 | ||
【主权项】：
一种平面度光学测量设备，其特征在于：包括机架，所述机架上端设有工作台；第一驱动装置，设置于所述工作台上；测量装置，与所述第一驱动装置固定连接，用于获取待测工件的数据；定位装置，设置于所述工作台上，用于固定待测工件；工控系统，设置于所述机架内，用于控制所述第一驱动装置和测量装置，以及计算分析所述测量装置反馈的数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市大族激光科技股份有限公司，未经深圳市大族激光科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320875722.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种蜗轮蜗杆中心距快速测量机床
- 下一篇：检测齿轮正时角度的检具
