[发明专利]用于检测散射光信号的设备和方法有效
| 申请号： | 201380002342.0 | 申请日： | 2013-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN103782327A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | E-W·万格;A·西门斯 | 申请（专利权）人： | 艾摩罗那股份公司 |
| 主分类号： | G08B17/107 | 分类号： | G08B17/107 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;陈潇潇 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 描述了一种用于检测散射光信号的设备和方法。光源（10）向光呈现会出现颗粒的散射光区域（15）。为了降低成本以及提高检测精度的目的，设备（100）包括用于检测散射光的多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）以及用于评估由光传感器检测到的信号的评估单元，其中所述传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）各自以相对于入射轴（11）的传感器角度（W1、W2、W3、W4、W5、W6、W7、W8、W9、W10）布置以检测来自散射光区域的散射光，其中多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的一个光传感器是参考传感器，并且其中所述评估单元被设计为将其它光传感器的信号轮廓与参考传感器的信号轮廓相关联，其中光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）的信号轮廓用于分类任何会出现在散射光区域（15）内的颗粒。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 散射 信号 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测散射光信号的设备（100），其中该设备包括：光源（10）；用于检测散射光的多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）；以及用于评估由所述光传感器检测到的信号的评估单元，其中所述光源（10）在一个散射光区域（15）内发射光，从而入射光定义入射轴（11），其中所述光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的每一个光传感器以相对于所述入射轴（11）的传感器角度（W1、W2、W3、W4、W5、W6、W7、W8、W9、W10）而被布置从而检测来自所述散射光区域（15）的散射光，其中所述多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的至少一者为参考传感器，其中为了分类任何可能存在于所述散射光区域（15）内的颗粒的类型，所述评估单元被设计为将其它光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）的信号轮廓与所述至少一个参考传感器的信号轮廓相关联。
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