[发明专利]低硅沸石的中孔隙率的引入无效

专利信息
申请号: 201380003810.6 申请日: 2013-01-14
公开(公告)号: CN103930369A 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 李坤浩;哈维尔·加西亚-马丁内斯;迈克尔·G·比弗 申请(专利权)人: 瑞弗科技有限公司
主分类号: C01B39/02 分类号: C01B39/02;C01B33/12;B01J35/10
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 代理人: 王达佐;安佳宁
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本文公开了中孔X沸石和中孔A沸石及其制备方法。这类中孔沸石可以通过使原始沸石与酸和成中孔剂接触来制备。原始沸石的骨架硅比铝含量可以为约1至约2.5。另外,这类中孔沸石的直径为的中孔总体积可以为至少0.05cc/g。
搜索关键词: 低硅沸石 孔隙率 引入
【主权项】:
形成包含中孔沸石的材料的方法,所述方法包括:(a)使原始沸石与成中孔剂接触,由此形成包含所述原始沸石和所述成中孔剂的第一处理混合物;并且(b)在所述第一处理混合物中引入酸,由此形成包含所述中孔沸石、所述成中孔剂和所述酸的第二处理混合物,其中所述原始沸石的骨架硅与铝的比(“Si/Al”)为约1至约2.5。
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