[发明专利]在基板上沉积III‑V族层的方法有效
申请号: | 201380004957.7 | 申请日: | 2013-01-09 |
公开(公告)号: | CN104040706B | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 埃罗尔·安东尼奥·C·桑切斯;宜乔·黄;新宇·鲍 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L21/20 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国,赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本文公开了用于将III‑V族层沉积于基板上的方法。在某些实施例中,一种方法包括下列步骤在范围自约300摄氏度至约400摄氏度的第一温度下,将第一层沉积在含硅表面上,该第一层包含第一III族元素或第一V族元素中的至少一者,该含硅表面定向于<111>晶向;和在范围自约300摄氏度至约600摄氏度的第二温度下,将第二层沉积在该第一层顶部,该第二层包含第二III族元素和第二V族元素。 | ||
搜索关键词: | 基板上 沉积 iii 方法 | ||
【主权项】:
一种将III‑V族层沉积在基板上的方法,所述方法包括下列步骤:蚀刻含硅基板,所述含硅基板具有定向于<111>晶向以外的晶向的表面,以在所述含硅基板中蚀刻出源极/漏极区域;在蚀刻出的所述源极/漏极区域中,在定向于所述<111>晶向以外的晶向的表面顶部上生长定向于所述<111>晶向的含硅表面;在范围自300摄氏度至400摄氏度的第一温度下,将第一层沉积在定向于所述<111>晶向的所述含硅表面上,所述第一层包含第一III族元素或第一V族元素中的至少一者;和在范围自300摄氏度至600摄氏度的第二温度下,将第二层沉积于所述第一层顶部,所述第二层包含第二III族元素和第二V族元素。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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