[发明专利]等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置有效
申请号: | 201380005955.X | 申请日: | 2013-01-31 |
公开(公告)号: | CN104067375A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 北村彰规;安田健太;石田俊介 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种等离子体蚀刻方法,其用于使用等离子体蚀刻装置隔着硬掩模对被处理基板的金属层进行蚀刻,连续交替地多次反复实施以下两个工序:作为所述蚀刻气体,使用由O2气体、CF4气体和HBr气体的混合气体构成的第1蚀刻气体的第1工序;和作为所述蚀刻气体,使用由O2和CF4气体的混合气体构成的第2蚀刻气体的第2工序,并且对下部电极施加第1频率的第1频率电力和比第1频率低的第2频率的第2高频电力,且脉冲状地施加第1高频电力。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 蚀刻 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种等离子体蚀刻方法,其用于使用等离子体蚀刻装置隔着硬掩模对被处理基板的金属层进行蚀刻,所述等离子体蚀刻装置包括:收纳被处理基板的处理腔室;配置于所述处理腔室内,用于载置所述被处理基板的下部电极;配置于所述处理腔室内,与所述下部电极相对的上部电极;对所述处理腔室内供给规定的蚀刻气体的蚀刻气体供给机构;和对所述处理腔室内进行排气的排气机构,所述等离子体蚀刻方法的特征在于:连续交替地多次反复实施以下两个工序:作为所述蚀刻气体,使用由O2气体、CF4气体和HBr气体的混合气体构成的第1蚀刻气体的第1工序;和作为所述蚀刻气体,使用由O2和CF4气体的混合气体构成的第2蚀刻气体的第2工序,并且,对所述下部电极施加第1频率的第1高频电力和比所述第1频率低的第2频率的第2高频电力,且脉冲状地施加所述第1高频电力。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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