[发明专利]等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置有效

专利信息
申请号: 201380005955.X 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN104067375A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 北村彰规;安田健太;石田俊介 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/3065 分类号: H01L21/3065
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种等离子体蚀刻方法,其用于使用等离子体蚀刻装置隔着硬掩模对被处理基板的金属层进行蚀刻,连续交替地多次反复实施以下两个工序:作为所述蚀刻气体,使用由O2气体、CF4气体和HBr气体的混合气体构成的第1蚀刻气体的第1工序;和作为所述蚀刻气体,使用由O2和CF4气体的混合气体构成的第2蚀刻气体的第2工序,并且对下部电极施加第1频率的第1频率电力和比第1频率低的第2频率的第2高频电力,且脉冲状地施加第1高频电力。
搜索关键词: 等离子体 蚀刻 方法 装置
【主权项】:
一种等离子体蚀刻方法,其用于使用等离子体蚀刻装置隔着硬掩模对被处理基板的金属层进行蚀刻,所述等离子体蚀刻装置包括:收纳被处理基板的处理腔室;配置于所述处理腔室内,用于载置所述被处理基板的下部电极;配置于所述处理腔室内,与所述下部电极相对的上部电极;对所述处理腔室内供给规定的蚀刻气体的蚀刻气体供给机构;和对所述处理腔室内进行排气的排气机构,所述等离子体蚀刻方法的特征在于:连续交替地多次反复实施以下两个工序:作为所述蚀刻气体,使用由O2气体、CF4气体和HBr气体的混合气体构成的第1蚀刻气体的第1工序;和作为所述蚀刻气体,使用由O2和CF4气体的混合气体构成的第2蚀刻气体的第2工序,并且,对所述下部电极施加第1频率的第1高频电力和比所述第1频率低的第2频率的第2高频电力,且脉冲状地施加所述第1高频电力。
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