[发明专利]多方向相衬X射线成像

摘要

本发明涉及对象的相衬X射线成像。为了提供在多于一个方向的相衬信息，提供一种X射线成像系统，所述X射线成像系统包括X射线源(12)、X射线探测器装置(16)、以及具有相位‑光栅结构(46)和分析器‑光栅结构(48)的光栅装置(18)。所述X射线探测器装置包括在第一方向平行于彼此的至少八个线探测器单元(40)，所述至少八个线探测器单元在垂直于所述第一方向的方向(44)线性延伸。所述光栅装置可以包括被布置在所述X射线源与所述相位‑光栅结构之间的源‑光栅结构，用于为经过所述源‑光栅结构的所述X射线束提供足够的相干性，使得在经过所述相位‑光栅结构之后，可以在所述分析器‑光栅结构的位置处观察到干涉。

主权项

一种用于对对象进行相衬成像的X射线成像系统(10)，包括：‑X射线源(12)；‑X射线探测器装置(16)；以及‑光栅装置(18)；其中，所述X射线探测器装置包括在第一方向(42)平行于彼此布置的至少八个线探测器单元(40)；其中，所述至少八个线探测器单元在垂直于所述第一方向的方向(44)线性延伸；其中，所述X射线源、所述X射线探测器装置和所述光栅装置适于执行在扫描方向(22)关于对象的采集移动(MA)，其中，所述扫描方向平行于所述第一方向；其中，所述光栅装置包括：被布置在所述X射线源与所述X射线探测器装置之间的相位‑光栅结构(46)；以及被布置在所述相位‑光栅结构与所述X射线探测器装置之间的分析器‑光栅结构(48)；其中，所述相位‑光栅结构具有若干线性相位‑光栅(52)，所述若干线性相位‑光栅中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线探测器单元的第一固定关联；其中，所述若干线性相位‑光栅的第一部分(54)被提供为在所述第一方向具有狭缝(58)的第一相位‑光栅(56)；并且所述若干线性相位‑光栅的第二部分(60)被提供为在不同于所述第一方向的第二方向(66)具有狭缝(64)的第二相位‑光栅(62)；并且其中，所述分析器‑光栅结构具有若干线性分析器‑光栅(68)，所述若干线性分析器‑光栅中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线探测器单元的第二固定关联；其中，所述若干线性分析器‑光栅的第一部分(70)被提供为在所述第一方向具有狭缝(74)的第一分析器‑光栅(72)；并且所述若干线性分析器‑光栅的第二部分(76)被提供为在所述第二方向具有狭缝(80)的第二分析器‑光栅(78)；其中，所述至少八个线探测器单元中的至少四个毗邻的线探测器单元与所述第一相位‑光栅和所述第一分析器‑光栅关联，并且其中，所述至少八个线探测器单元中的至少另外四个毗邻的线探测器单元与所述第二相位‑光栅和所述第二分析器‑光栅关联；并且其中，针对所述采集移动，所述相位‑光栅结构和所述分析器‑光栅结构相对于彼此并且相对于所述X射线探测器装置保持固定。