[发明专利]测量物质浓度的传感器装置有效

专利信息
申请号: 201380009460.4 申请日: 2013-03-14
公开(公告)号: CN104114449A 公开(公告)日: 2014-10-22
发明(设计)人: 安德里亚·玛萨利;欧亨尼奥·西吉诺尔菲;波·伦贝里;汉斯·哈尔斯坦迪斯;希勒瓦·德巴克 申请(专利权)人: 利乐拉瓦尔集团及财务有限公司
主分类号: B65B55/10 分类号: B65B55/10;G01N21/31;G01N21/33
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 李献忠
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 一种传感器装置,其用于在干扰物存在下测定开放式样品(130)中物质的浓度,所述传感器装置包括:第一光源(200),其发射被所述物质吸收的第一波长下的脉冲光(S1),第二光源(210),其发射透过所述物质的第二波长下的脉冲光(S2),光学装置(250、252、254、310、320、330、340),其用于沿相同的光路将发射的所述第一波长和第二波长的脉冲光(S1、S2)的至少一部分引导通过开放式样品(130),以及样品检测器(230),其布置在所述光路的末端用于接收透过所述样品(130)的所发射的所述第一波长和第二波长的光(S1、S2),其中所述干扰物作为沉积物形成在暴露于所述物质的所述光学装置(250、252、254、310、320、330、340)中的至少一个上,并且其中所述第一波长和第二波长被所述干扰物吸收。
搜索关键词: 测量 物质 浓度 传感器 装置
【主权项】:
一种用于在干扰物的存在下测定开放式样品(130)中物质的浓度的传感器装置,所述传感器装置包括:第一光源(200),其发射被所述物质吸收的第一波长下的脉冲光(S1),第二光源(210),其发射透过所述物质的第二波长下的脉冲光(S2),光学装置(250、252、254、310、320、330、340),其用于沿相同的光路将所发射的所述第一波长和第二波长的脉冲光(S1、S2)的至少一部分引导通过所述开放式样品(130),以及样品检测器(230),其布置在所述光路的末端用于接收所发射的透过所述样品(130)的所述第一波长和第二波长的光(S1、S2),其中所述干扰物作为沉积物形成在暴露于所述物质的所述光学装置(250、252、254、310、320、330、340)中的至少一个上,并且其中所述第一波长和第二波长被所述干扰物吸收。
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