[发明专利]用于制造单晶金属-半导体-复合的方法无效
申请号: | 201380011225.0 | 申请日: | 2013-02-16 |
公开(公告)号: | CN104254905A | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 赵清太;L.克诺尔;S.曼特尔 | 申请(专利权)人: | 于利奇研究中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/285 | 分类号: | H01L21/285;H01L21/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 徐予红;刘春元 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 在用于制造半传导的功能层的表面上的单晶金属-半导体-复合的方法中首先将包含金属的储备层涂覆在功能层上。接着通过退火触发金属与功能层的反应。根据本发明,储备层最迟在从功能层的表面起5nm的层厚度的情况下结束,或储备层最迟在这个层厚度的情况下转变成区域,金属在该区域中比在与功能层直接相邻的区域中更慢扩散。通过这个措施可以有利地避免功能层中金属的扩散流。可以认识到,这正好取决于,金属-半导体-复合是否是单晶。储备层可以由金属或金属的合金组成的至少两个层,该至少两个层彼此之间通过扩散势垒分开,但是还包括由金属组成的与功能层直接相邻的层和由金属的合金组成的至少一个层。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 金属 半导体 复合 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造半传导的功能层的表面上的单晶金属‑半导体‑复合的方法,其中首先将包含金属的储备层涂覆在所述功能层上并且然后通过退火触发所述金属与所述功能层的反应,其特征在于,所述储备层最迟在从所述功能层的表面起5nm的层厚度的情况下结束或转变为其中所述金属比在与所述功能层直接相邻的区域中更慢地扩散的区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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