[发明专利]质谱中校正的质量分析物值有效
| 申请号： | 201380012943.X | 申请日： | 2013-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN104160472B | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | P·M·雷米斯 | 申请（专利权）人： | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 姬利永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在此描述一种用于确定一种分析物的质荷比的方法，该方法考虑到当在一个离子阱中存在相对高浓度的离子时的多种空间电荷限制。该方法包括针对由该分析物离子本身以及与该分析物离子具有不同质荷比的相邻离子引起的空间电荷效应来校准质谱仪。可以在该离子阱中存在相对高浓度的离子情况下测量一种分析物离子和一种相邻离子两者的质谱。可以基于该测量的分析物质荷比、该测量的分析物丰度、该第一质荷比差以及该测量的第一相邻离子丰度来计算一种分析物离子的校正的质荷比。所得校正的质荷比具有增大的准确性并且同时改进该离子阱质量分析器的动态范围。 | ||
| 搜索关键词： | 质谱中 校正 质量 分析 | ||
【主权项】：
一种确定样品中分析物的质荷比的方法，该方法包括：a)获得一个质谱，其中在存在一种第一相邻离子情况下测量该分析物的质荷比，该第一相邻离子包括所具有的质荷比与该分析物的质荷比不同的离子，该质谱包括：i)测量的分析物质荷比、ii)测量的第一相邻离子质荷比、iii)测量的第一相邻离子丰度，b)通过从该测量的分析物质荷比减去该测量的第一相邻离子质荷比来确定一个第一质荷比差；其特征在于，所述方法还包括：c)基于i)该测量的分析物质荷比、ii)该第一质荷比差、以及iii)该测量的第一相邻离子丰度来计算一个校正的分析物质荷比。
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