[发明专利]金属检测方法、金属检测装置、非接触供电装置的金属检测方法和非接触供电装置有效
| 申请号： | 201380013065.3 | 申请日： | 2013-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN104160300B | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 入江健一;河田雅史;兵头聪;小原弘士 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01V3/10 | 分类号： | G01V3/10;H02J17/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够高精度地检测物体是金属还是非金属的金属检测方法、金属检测装置、非接触供电装置的金属检测方法以及非接触供电装置。振荡电路(10)振荡并产生具有单一基频的正弦波，并且利用正弦波的振荡电流(It)来励磁金属检测线圈(Ls)。从金属检测线圈(Ls)辐射具有单一基频的正弦波的电磁波。高通滤波器电路(11a)输入振荡电流(It)，从振荡电流(It)中去除基频成分，提取基频的谐波成分，并且比较电路(12)判断金属存在或不存在。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 检测 方法 装置 接触 供电 | ||
【主权项】：
一种用于对配置在金属检测区域中的金属检测线圈进行励磁以使用从所述金属检测线圈辐射的电磁波来检测所述金属检测区域中是否存在金属的方法，所述方法包括以下步骤：利用具有单一基频的正弦波的振荡电流来对所述金属检测线圈进行励磁以从所述金属检测线圈辐射电磁波；以及根据流至所述金属检测线圈的所述振荡电流中的所述基频的变化来检测所述金属检测区域中是否存在金属，其中，检测所述金属检测区域中是否存在金属的步骤包括：通过高通滤波器电路从所述振荡电流中滤波除基频成分以外的谐波成分以生成滤波信号；将来自所述高通滤波器电路的所述滤波信号放大以生成检测信号；将所述检测信号的信号电平与预先确定的基准值进行比较；基于比较结果来判断在所述振荡电流中是否生成了相对于所述基频的谐波；以及在所述振荡电流中生成相对于所述基频的谐波的情况下，检测出所述金属检测区域中存在金属。
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