[发明专利]物体检测装置及物体检测方法有效
| 申请号： | 201380014828.6 | 申请日： | 2013-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN104205170B | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 长谷川弘 | 申请（专利权）人： | 株式会社巨晶片 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/60 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 闫小龙,刘春元 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的课题在于，以少的运算量检测物体的重要的信息。物体检测部（22A）根据彩色图像生成边缘图像。物体检测部（22A）考虑注目像素的像素位置来评价包括于边缘图像的图像的对称性。物体检测部（22A）确定具有对称性的物体的对称中心像素。物体检测部（22A）按每个对称中心像素检测物体宽度。物体检测部（22A）根据对称中心像素的垂直方向的宽度来确定物体的垂直方向的宽度，根据按每个对称中心像素确定的物体宽度来确定物体的水平方向的宽度。 | ||
| 搜索关键词： | 物体 检测 装置 程序 | ||
【主权项】：
一种物体检测装置，具备：图像输入部，输入图像；图像特征量提取部，从所述图像提取规定的图像特征量而生成特征量提取图像；对称性评价部，对所述特征量提取图像按作为处理对象的每个注目像素基于所述注目像素的周边像素的图像特征量来评价所述注目像素的周边的图像区域的关于第1方向的对称性，并且算出关于所述第1方向的对称宽度；中心检测部，在对所述注目像素评价的对称性大于规定的基准的情况下，将该注目像素检测为对称中心像素；物体区域检测部，基于所述对称中心像素的所述对称宽度来检测包括在所述图像的具有对称性的物体的关于所述第1方向的物体宽度，基于所述对称中心像素的关于与所述第1方向正交的第2方向的分布来检测所述物体的关于所述第2方向的物体宽度。
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