[发明专利]物质特性测定装置有效
申请号: | 201380017444.X | 申请日: | 2013-03-28 |
公开(公告)号: | CN104246477B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 市泽康史;堀越久美子;节田和纪;千田直道 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01N21/3559 | 分类号: | G01N21/3559 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 何立波,张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种物质特性测定装置,其将不同波长的光向被测定物质照射,并基于向被测定物质照射后的各个波长的光的相对强度,对被测定物质的特性进行测定,在物质特性测定装置中,即使不是光谱的半值宽度极窄的光也能够进行高精度的测定。物质特性测定装置的特征在于,具备光源照射部,其将n个不同波长的光向被测定物质照射;检测部,其对向被测定物质照射后的各个波长的光的强度进行检测;以及运算处理部,其利用由行以及列分别小于或等于n阶的矩阵表示的校正系数,对检测出的各个波长中的至少一部分波长的光的强度进行校正,并基于校正后的各个波长的光的相对强度,计算表示被测定物质的特性的指标值。 | ||
搜索关键词: | 物质 特性 测定 装置 | ||
【主权项】:
一种物质特性测定装置,其特征在于,具备:光源照射部,其将n个不同波长的光向被测定物质照射;检测部,其对向所述被测定物质照射后的各个波长的光的强度进行检测;以及运算处理部,其利用由行以及列分别小于或等于n阶的矩阵表示的校正系数,对检测出的各个波长中的至少一部分波长的光的强度进行校正,并基于校正后的各个波长的光的相对强度,计算表示所述被测定物质的特性的指标值,所述运算处理部,如果计算出所述指标值,则参考将所述指标值与所述特性值关联而成的检量线,将所述指标值变换为特性值,所述校正系数被确定为,使得针对多种类型的被测定物质的检量线的一致程度满足规定基准,所述被测定物质是纸张,所述特性是含水率。
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