[发明专利]温度测定方法及温度测定装置有效
申请号: | 201380018614.6 | 申请日: | 2013-03-01 |
公开(公告)号: | CN104204744B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 大重贵彦 | 申请(专利权)人: | 杰富意钢铁株式会社 |
主分类号: | G01J5/10 | 分类号: | G01J5/10;G01J5/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 高培培,车文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 回归式制成部(3)对于通过使用接触式温度计测定了测定对象物的温度测定值而确定的检量线制成用的分光光谱信息进行基础分解,算出基础的得分a(k,j),根据得分a(k,j)和检量线制成用的分光光谱信息所对应的接触式温度计(30)的温度指示值的温度,算出多元回归系数(c(k),k=1,2)。温度推定部(4)基于测定对象物的分光光谱信息和通过回归式制成部(3)算出的基础,算出基础的得分a(k,j),基于算出的得分a(k,j)和多元回归系数(c(k),k=1,2)来推定测定对象物的温度。由此,不计算放射率的组合解,能够不受放射率的变动的影响而高精度地对测定对象物的温度进行测定。 | ||
搜索关键词: | 温度 测定 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种温度测定方法,对从测定对象物发出的放射能量进行分光测定,对所得到的分光光谱信息进行信号处理,从而对测定对象物的表面温度进行测定,所述温度测定方法的特征在于,基于从所述测定对象物得到的分光光谱信息而算出预先取得的基础光谱的得分,按照预先取得的检量式而使用所述得分来进行所述表面温度的测定,根据使用接触式温度计对测定对象物进行了测定的温度测定值,来决定所述基础光谱及所述检量式,根据测定对象物的分光光谱信息和测定与所述接触式温度计的温度测定值相同温度的黑体炉而得到的放射能量的分光光谱信息之比,来算出放射率,对基于该放射率的放射率变动进行主成分分析而得到一个或多个主成分,将与该一个或多个主成分正交的光谱决定作为所述基础光谱。
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