[发明专利]光学断层图像获取装置无效
申请号: | 201380020411.0 | 申请日: | 2013-10-08 |
公开(公告)号: | CN104246476A | 公开(公告)日: | 2014-12-24 |
发明(设计)人: | 田中正人;祖川伊知郎 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;何胜勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种光学断层图像获取装置,该装置能够防止伪像的产生并且还能够获得测量物的准确光学断层图像。光学断层图像获取装置(1)包括光源(11)、检测器(12)、分析单元(13)、循环器(20)、耦合器(30)、聚光透镜(41、42)、光纤(51、52)和基准反射镜(91)。当检测器(12)的相邻两个光接收元件所接收的光的波数的间隔的最大值为δk、光程(L0ref)是经基准反射镜(91)反射之后的从耦合器(30)到检测器(12)的光程、且光程(L0obj)是经测量物(92)反射之后的从耦合器(30)到检测器(12)的光程时,则满足表达式|L0obj-L0ref|<π/δk,并且当光程(L1ref)是经聚光透镜(41)反射之后的从耦合器(30)到检测器(12)的光程且光程(L1obj)是经聚光透镜(42)反射之后的从耦合器(30)到检测器(12)的光程时,则满足表达式|L0obj-L0ref|>π/δk。 | ||
搜索关键词: | 光学 断层 图像 获取 装置 | ||
【主权项】:
一种光学断层图像获取装置,包括:光源,其输出光;分路部件,其将自所述光源输出的光分为基准光和测量光这两个光束;基准光学系统,其包括第一光纤、第一聚光透镜和基准反射镜,并且构造为:从所述分路部件输出的所述基准光受到引导而传播通过所述第一光纤,从而经由所述第一聚光透镜入射在所述基准反射镜上,以及在所述基准光入射时由所述基准反射镜产生的反射光受到引导从而经由所述第一聚光透镜传播通过所述第一光纤;测量光学系统,其包括第二光纤和第二聚光透镜,并且构造为:从所述分路部件输出的所述测量光受到引导而传播通过所述第二光纤,从而经由所述第二聚光透镜施加在测量物上进行照射,以及在用所述测量光进行照射时由所述测量物产生的反射光受到引导而作为物体光经由所述第二聚光透镜传播通过所述第二光纤;检测器,其接收由从所述基准光学系统输出的所述反射光与从所述测量光学系统输出的所述物体光之间的干涉得到的干涉光,并且利用包括设置为阵列的多个光接收元件的光谱仪检测所述干涉光的光谱;以及分析单元,其基于所述检测器所检测的结果获取所述测量物的光学断层图像,其中,假定δk是所述光谱仪的所述多个光接收元件中的相邻两个光接收元件所接收的光的波数的间隔的最大值,光程L0ref是从所述分路部件通过前往且返自所述基准反射镜的路径而到达所述检测器的光程,以及光程L0obj是从所述分路部件通过前往且返自所述测量物的路径而到达所述检测器的光程,它们满足以下表达式:|L0obj‑L0ref|<π/δk并且,光程L1ref是从所述分路部件通过前往且返自所述第一聚光透镜的路径而到达所述检测器的光程,以及光程L1obj是从所述分路部件通过前往且返自所述第二聚光透镜的路径而到达所述检测器的光程,满足以下表达式:|L1obj‑L1ref|>π/δk。
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