[发明专利]颗粒吸附探头无效

专利信息
申请号: 201380020552.2 申请日: 2013-04-09
公开(公告)号: CN104271320A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 前野洋平 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: B25J7/00 分类号: B25J7/00;B25J15/06;B82Y35/00;G01N1/02;G01N15/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种新型的颗粒吸附探头(1000),其为吸附并拾取颗粒的颗粒吸附探头(1000),在拾取颗粒时不需要施加物理应力,颗粒的拾取时不会污染异物表面,能够从粒径分布宽的颗粒群中选择性地拾取特定粒径的颗粒,能够在拾取颗粒后直接在分析装置内进行分析评价。本发明的颗粒吸附探头(1000)具有具备多个碳纳米管(10)的碳纳米管集合体(100)。
搜索关键词: 颗粒 吸附 探头
【主权项】:
一种颗粒吸附探头,其特征在于:具有具备多个碳纳米管的碳纳米管集合体。
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