[发明专利]光学装置以及检测装置无效
| 申请号： | 201380022692.3 | 申请日： | 2013-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN104272090A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 坂上裕介;山田耕平;山田明子 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种即使是较低浓度的被检测对象，也能够检测宽范围浓度的被测定样品的光学装置以及检测装置。光学装置12射入有来自光源的光，并射出检测和/或鉴定被测定样品的光。该光学装置具有：形成在电介质16上的多个金属纳米结构17、形成在多个金属纳米结构中相邻的两个金属纳米结构之间的电介质上的第一有机分子膜18、以及形成在多个金属纳米结构上且与第一有机分子膜不同的第二有机分子膜19。第一有机分子膜以及第二有机分子膜附着(捕捉)被测定样品1。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 装置 以及 检测 | ||
【主权项】：
一种光学装置，其特征在于，当激发光射入所述光学装置时，所述光学装置射出检测和/或鉴定被测定样品的光，所述光学装置具有：多个金属纳米结构，形成在电介质上；第一有机分子膜，形成在所述多个金属纳米结构中相邻的两个金属纳米结构之间的所述电介质上；以及第二有机分子膜，形成在所述多个金属纳米结构上，且与所述第一有机分子膜不同，所述第一有机分子膜以及所述第二有机分子膜附着所述被测定样品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社，未经精工爱普生株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201380022692.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
