[发明专利]用于确定坐标测量装置中转台轴线的方法有效
| 申请号： | 201380023343.3 | 申请日： | 2013-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN104272061B | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | M·维默尔 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 侯鸣慧 |
| 地址： | 德国奥*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于重复地确定转台轴线(D)在坐标测量装置的装置坐标系统中的位态的方法，包括a)在多个转台位置中通过KMG的测量系统来探触处于转台(3)上的检验体(9)并且由探触点确定所述转台轴线(D)在所述装置坐标系统(XKMG,YKMG,ZKMG,Z′KMG)中的X坐标和Y坐标，其中，所述方法还包括b)通过KMG的所述测量系统来探触第一探触体(20)，该第一探触体安装在所述转台(3)的旁边并且该第一探触体具有相对于所述转台轴线(D)的X坐标位置固定地定位的第一探触体参考点(R1)，并且，确定所述第一探触体参考点(R1)的X坐标；c)通过KMG的测量系统来探触第二探触体(21)，该第二探触体安装在所述转台(3)的旁边并且该第二探触体具有相对于所述转台轴线(D)的Y坐标位置固定地定位的第二探触体参考点(R2)，并且，确定所述第二探触体参考点(R2)的Y坐标；d)在一个或多个之后的时间点上重复步骤b)和c)并且在一个所述之后的时间点或在多个所述随后的时间点上由所述第一探触体参考点(R1)的所述X坐标和所述第二探触体参考点(R2)的所述Y坐标来确定所述转台轴线的X坐标和Y坐标；以及一种坐标测量装置，通过该坐标测量装置可执行所述方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 坐标 测量 装置 转台 轴线 方法 | ||
【主权项】：
用于确定转台轴线(D)在坐标测量装置的装置坐标系统中的位态的方法，包括：a)在多个转台位置中通过坐标测量装置的测量系统来探触处于转台(3)上的检验体(9)并且由探触点确定所述转台轴线(D)在所述装置坐标系统(XKMG,YKMG,ZKMG,Z′KMG)中的X坐标和Y坐标，其特征在于，所述方法还包括：b)通过坐标测量装置的所述测量系统来探触第一探触体(20)，该第一探触体安装在所述转台(3)的旁边并且该第一探触体具有相对于所述转台轴线(D)的X坐标位置固定地定位的第一探触体参考点(R1)，并且，确定所述第一探触体参考点(R1)的X坐标；c)通过坐标测量装置的测量系统来探触第二探触体(21)，该第二探触体安装在所述转台(3)的旁边并且该第二探触体具有相对于所述转台轴线(D)的Y坐标位置固定地定位的第二探触体参考点(R2)，并且，确定所述第二探触体参考点(R2)的Y坐标；d)在一个或多个之后的时间点上重复步骤b)和c)并且在一个所述之后的时间点或在多个所述之后的时间点上由所述第一探触体参考点(R1)的所述X坐标和所述第二探触体参考点(R2)的所述Y坐标来确定所述转台轴线的X坐标和Y坐标。
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