[发明专利]高动态范围检测器校正算法

摘要

本发明提供用以执行空载时间校正的系统及方法。使用质谱仪的非可瘫痪检测系统获得所观测离子计数率。所述检测系统包含离子检测器、比较器/鉴别器、单稳态电路及计数器。所述非可瘫痪检测系统在高计数率下展现空载时间扩展。所述空载时间扩展的发生是由于所述单稳态电路需要上升沿来触发且仅可在来自所述比较器/鉴别器的输出脉冲已变低之后再次被触发。这允许恰好在由第一比较器/鉴别器脉冲开始的所述空载时间的结束之前到达的第二比较器/鉴别器脉冲将所述空载时间扩展到所述第二比较器/鉴别器脉冲的后沿。通过执行所述所观测离子计数率的空载时间校正来计算真实离子计数率。

主权项

一种用于针对质谱仪的非可瘫痪检测系统执行空载时间校正的系统，所述非可瘫痪检测系统在高计数率下展现为非瘫痪电子器件的特性的结果的空载时间扩展，所述系统包括：质谱仪的非可瘫痪检测系统，其包含离子检测器、比较器/鉴别器、单稳态电路及计数器，其中所述单稳态电路需要来自所述比较器/鉴别器的脉冲的上升沿来触发且仅可在所述脉冲已变低之后再次被触发，从而允许恰好在由第一比较器/鉴别器脉冲开始的空载时间的结束之前到达的第二比较器/鉴别器脉冲将所述空载时间扩展到所述第二比较器/鉴别器脉冲的后沿；以及处理器，其与所述计数器进行数据通信，所述处理器从所述计数器接收所观测离子计数，根据所述所观测离子计数计算所观测离子计数率，以及使用另外包含调整因子函数的用于非可瘫痪检测系统的真实离子计数率的方程式来执行所述所观测离子计数率的空载时间校正，所述调整因子函数考虑到所述空载时间的所述扩展。