[发明专利]利用用于卷材制造或处理系统的自适应探测信号设计技术的闭环对准识别在审
| 申请号： | 201380028046.8 | 申请日： | 2013-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN104350202A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 褚丹雷;C.格奧尔基 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔阿斯卡公司 |
| 主分类号： | D21G9/00 | 分类号： | D21G9/00;B65H23/00;B65H43/00;D21F2/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;张懿 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 一种方法包括设计（308、400、500）探测信号，所述探测信号用于利用正在由卷材制造或处理系统（100）所制造或处理的材料的卷材（108）的测量结果来测试所述系统中的致动器（202）的对准。该方法还包括在对准测试期间提供（310）探测信号以利用卷材的测量结果来识别所述致动器的对准。设计所述探测信号包括基于所述卷材制造或处理系统的空间和动态特性两者来设计所述探测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 用于 卷材 制造 处理 系统 自适应 探测 信号 设计 技术 闭环 对准 识别 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：设计（308、400、500）探测信号，所述探测信号用于利用正在由卷材制造或处理系统（100）所制造或处理的材料的卷材（108）的测量结果来测试所述系统中的致动器（202）的对准；以及在对准测试期间提供（310）所述探测信号以利用所述卷材的测量结果来识别所述致动器的对准；其中，设计所述探测信号包括基于所述卷材制造或处理系统的空间和动态特性两者来设计所述探测信号。
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