[发明专利]用于通过微波传输测量来测量样本的介电和/或磁性特性的装置有效

专利信息
申请号: 201380032115.2 申请日: 2013-05-16
公开(公告)号: CN104487827B 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: A·克莱因 申请(专利权)人: E·卡茨
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 吕俊刚,刘久亮
地址: 德国西梅*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于通过微波传输测量来测量样本(P)的介电和/或磁性特性的装置,该装置包括发射天线(10)和接收天线(20),其限定传输测量段,在该传输测量段中能够放置待测样本(P);至少一个发射机侧合成发生器(12,14),其用于产生具有在800MHz到30GHz之间的频率的高频信号(F1,F2);以及频率标准(32),其在发射机侧通过低频同步信号线(34a)连接到发射机侧合成发生器(12,14),发射机侧合成发生器(12,14)以可重现方式锁相地耦合到该频率标准。该装置还包括评估单元(AM),该评估单元(AM)至少间接地连接到发射机侧合成发生器(12,14)以及接收天线(20)。为了提高测量结果的重现性,尤其是在工业环境中,在接收侧设置至少一个附加的合成发生器(22),该合成发生器(22)在接收侧通过低频同步信号线(34b)连接到频率标准(32),并且以可重现的方式锁相地耦合到该频率标准,并且该合成发生器(22)还至少间接地连接到评估单元(AM)。
搜索关键词: 用于 通过 微波 传输 测量 样本 磁性 特性 装置
【主权项】:
一种用于通过微波传输测量来测量样本(P)的介电和/或磁性特性的装置,所述装置包括:发射天线(10)和接收天线(20),其限定传输测量段,在该传输测量段中能够放置待测的所述样本(P);至少一个发射侧合成器(11,12,14),其用于产生具有在800MHz到30GHz之间的频率的高频信号(F1,F2);频率标准(32),其经由发射侧低频同步信号线(34a)连接到发射侧合成器(11,12,14),发射侧合成器(12,14)可重现地锁相地耦合到所述频率标准(32);以及评估单元,其至少间接地连接到发射侧合成器(11,12,14)以及所述接收天线(20),其特征在于,另外设置至少一个接收侧合成器(22,23,24),所述至少一个接收侧合成器(22,23,24)通过接收侧低频同步信号线(34b)连接到所述频率标准(32),并且可重现地锁相地耦合到所述频率标准(32),并且至少间接地连接到所述评估单元,其中,所述装置包括多于一个发射侧合成器或多于一个接收侧合成器,并且其中,一个发射侧合成器和一个接收侧合成器产生同一高频。
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