[发明专利]用于探测微粒的传感器的功能检验的方法和用于探测微粒的传感器有效
| 申请号： | 201380032804.3 | 申请日： | 2013-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN104641216B | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | B·格特纳;M·克伦克;K·赫韦格;M·贝森 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;F01N11/00;F02D41/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 郭毅 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 提出一种用于探测微粒、尤其烟灰的传感器(10)的功能检验的方法，其中所述传感器(10)包括至少两个测量电极(20)和一个加热元件(14)，所述至少两个测量电极设置在由电绝缘材料构成的衬底(18)上。所述方法包括以下步骤：在第一温度(42)时实施第一电流电压测量以求取第一测量参量；在第二温度(60)时实施第二电流电压测量以求取第二测量参量；以及形成所述第一测量参量和所述第二测量参量的差。此外，提出一种用于探测微粒的传感器，所述传感器包括至少两个电极(20)、一个加热元件(14)和一个控制装置(25)，所述至少两个电极设置在由电绝缘材料构成的衬底(18)上。所述控制装置(25)设置用于实施所述方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 微粒 传感器 功能 检验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于探测微粒的传感器(10)的功能检验的方法，其中，所述传感器(10)包括至少两个测量电极(20)和一个加热元件(14)，所述至少两个测量电极设置在由电绝缘材料构成的衬底(18)上，其中，所述方法包括以下步骤：在第一温度(42)时实施第一电流电压测量以求取第一测量参量；在第二温度(60)时实施第二电流电压测量以求取第二测量参量；形成所述第一测量参量和所述第二测量参量的差，其中，基于所述差推断出所述传感器(10)的功能性。
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