[发明专利]用于大面积半导体芯片的低热应力封装有效

专利信息
申请号: 201380036218.6 申请日: 2013-09-17
公开(公告)号: CN104471705B 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: R·J·博诺;N·索拉诺 申请(专利权)人: 保险丝公司
主分类号: H01L23/12 分类号: H01L23/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 申发振
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于大面积半导体芯片的低热应力封装。封装可以包括衬底和至少一个由衬底延伸的基座,其中基座可以具有比被安装到基座的半导体芯片的安装表面更小的安装表面。因此,芯片和基座之间的接合面积相对于常规的半导体封装衬底来说是减小的,随之减小的是在热循环过程中芯片经承受的热应力量。
搜索关键词: 半导体芯片 封装 低热 安装表面 衬底 减小 接合 常规的 热循环 中芯片 半导体 芯片 延伸 力量
【主权项】:
1.用于半导体芯片的低热应力封装,包括:衬底;基座,从所述衬底延伸以支撑半导体芯片离开所述衬底,并在所述衬底和所述半导体芯片的悬突部分之间形成间隙,以允许所述半导体芯片的热膨胀和收缩,所述基座具有比要被安装到所述基座的半导体芯片的安装表面小的安装表面;热沉,耦接到所述衬底,所述热沉延伸超出所述基座的安装表面并延伸超出所述半导体芯片的安装表面;以及焊料层,所述焊料层将所述衬底附接到所述基座。
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