[发明专利]用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化

摘要

一种用于自检荧光计(400)的失效或性能恶化的系统和方法，包括安装在载体上以相对于一个或多个固定荧光计移动的荧光参考标准物(250)。使用所述荧光计(400)初始测量所述荧光参考标准物(250)的荧光发射强度，并且在荧光计使用了一段规定时间后，使用荧光计测定荧光标准物的荧光发射强度的测试量值。将所述测试量值与所述初始量值相比较，并且基于所述测试量值与所述初始量值的偏差确定所述荧光计的失效或性能恶化。

主权项

一种用于监测动态环境中荧光计的性能的系统，所述系统包括：荧光计，所述荧光计包括两个或更多个通道，每个通道具有单独的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器，并且其中每个通道被配置成将光源会聚到检测区；支承架，所述支承架包括两个或更多个荧光参考标准物，每个荧光参考标准物对应于所述荧光计的单个通道，其中所述支承架被构造为容纳两个或更多个可移除的容器管；以及驱动装置，所述驱动装置被配置成调整所述参考标准物与所述荧光计之间的相对横向定位，使得所述两个或更多个荧光参考标准物中的每个可被定位成进入或离开与所述荧光计的其对应通道光学连通。