[发明专利]光学测量探针和用于内直径和外直径的光学测量的方法有效
| 申请号： | 201380038356.8 | 申请日： | 2013-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN104508421B | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | P.德拉巴雷克;G.弗兰茨;P.里格 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/12 | 分类号： | G01B11/12;G01B9/02;G01B11/24;G01N21/88 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 张晔,宣力伟 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量物体的内直径和/或外直径的光学测量探针，所述光学测量探针具有用于将光束聚焦或对准到物体的表面上的第一光学元件。在此规定，在光学测量探针中如此设置用于将光束分成第一测量光束和第二测量光束的第二光学元件，从而使得第二测量光束反向于第一测量光束的方向从测量探针中导出，第一测量光束构成第一探测点而第二测量光束构成第二探测点。本发明此外还涉及一种相应的、用于利用光学测量探针测量直径的方法。所述光学测量探针和所属的方法能够实现测量探针的内直径和/或外直径的简单的光学检测。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 探针 用于 直径 方法 | ||
【主权项】：
用于测量物体的内直径和/或外直径的光学测量探针，所述光学测量探针具有用于将光束聚焦或对准到物体的表面上的第一光学元件，其特征在于，在所述光学测量探针（10）中如此设置用于将光束（13）分成第一测量光束（14）和第二测量光束（16）的第二光学元件（20），从而使得所述第二测量光束（16）反向于所述第一测量光束（14）的方向从所述光学测量探针（10）中导出，并且所述第一测量光束（14）构成第一探测点（15）而所述第二测量光束（16）构成第二探测点（17），其中，在第一步骤中所述光学测量探针（10）如此定位到第一测量位置上，从而使得所述第一探测点（15）位于物体的第一表面上；其中，在第二步骤中包含所述光学测量探针的探测臂如此定位到第二测量位置上，从而使得所述第二探测点（17）位于物体的第二表面上；并且其中，所述表面的间距由所述第一测量位置与所述第二测量位置之间的间距和所述第一探测点（15）与所述第二探测点（17）之间的校准间距确定，其中，在一条共同的直线上沿相反的方向引导所述第一测量光束（14）和所述第二测量光束（16）。
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