[发明专利]减少应力的TSV和插入结构有效
申请号: | 201380038752.0 | 申请日: | 2013-06-06 |
公开(公告)号: | CN104718611B | 公开(公告)日: | 2017-07-11 |
发明(设计)人: | C·E·尤佐;C·G·沃伊奇克;T·卡斯基;K·V·德塞;魏怀亮;C·米彻尔;B·哈巴 | 申请(专利权)人: | 伊文萨思公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/48;H01L23/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 酆迅 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 部件10可包括衬底20和在开口30内延伸的导电通孔40。衬底20可具有第一和第二相对表面21、22。可在开口30的内壁32处露出介电材料60。导电通孔40可与第一表面21相邻地在开口30内限定释放沟道55。释放沟道55可在平行于第一表面21的平面P的方向D2上和所述第一表面21下方的5微米内与内壁32相距第一距离D1的边缘56,第一距离小于1微米和平面中的开口30的最大宽度的5%。边缘56可沿着内壁32延伸以跨越内壁的圆周的至少5%。 | ||
搜索关键词: | 减少 应力 tsv 插入 结构 | ||
【主权项】:
一种具有减少应力的硅通孔(TSV)和插入结构的部件,所述部件包括:衬底,具有第一表面、与所述第一表面相对的第二表面以及从所述第一表面朝向所述第二表面延伸的开口,所述开口具有延伸远离所述第一表面的内壁,在所述内壁处露出介电材料;以及导电过孔,在所述开口内延伸并在所述开口内与所述第一表面相邻地限定释放沟道,所述释放沟道在所述第一表面下方5微米以内且与所述第一表面平行的平面的方向上具有与所述内壁相距第一距离以内的边缘,所述第一距离小于1微米且小于所述平面中所述开口的最大宽度的5%,所述边缘沿着所述内壁延伸以跨越所述内壁的圆周的至少5%。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于伊文萨思公司,未经伊文萨思公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380038752.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体装置、固体摄像装置和电子设备
- 下一篇:用于容纳及安装晶片的容纳装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造