[发明专利]用于确定物体中的几何特征的方法和系统

摘要

本发明提供一种用于确定物体中的几何特征的方法和系统。所述方法包括接收对入射于所述物体上的超声波束的至少一个几何特征响应。所述入射超声波束从多个超声波传感器中的一个产生。另外，所述物体的体积表示基于多个物体参数产生。所述物体的体积表示和多个传感器参数用于产生所述物体中的预测波束遍历路径。所述预测波束遍历路径用于产生对所述超声波束的预测渡越时间几何特征响应的时间图。所述物体的所述体积表示上的位置当所述接收几何特征响应等同于对应于所述位置的所述预测渡越时间几何特征响应时，将被确定为所述几何特征的位置。

主权项

一种用于确定物体中的至少一个几何特征的位置的方法，所述方法包括：接收对入射于所述物体上的超声波束的至少一个几何特征响应，其中所述超声波束从多个超声波传感器中的一个产生；基于多个物体参数产生所述物体的体积表示；基于所述物体中的并且源自所述超声波传感器的预测超声波束遍历路径产生对所述超声波束的预测渡越时间几何特征响应的时间图，其中所述预测超声波束遍历路径基于所述物体的所述体积表示和多个传感器参数产生；以及所述物体的所述体积表示上的位置当所述接收几何特征响应等同于对应于所述位置的所述预测渡越时间几何特征响应时，将被确定为所述几何特征的位置。