[发明专利]摄像透镜镜筒及其动作控制方法有效

专利信息
申请号: 201380042718.0 申请日: 2013-07-18
公开(公告)号: CN104704327A 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 宫下守 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G01D5/244 分类号: G01D5/244;G02B7/04;G02B7/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王亚爱
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种摄像透镜镜筒及其动作控制方法。本发明的摄像透镜镜筒具备:镜筒主体;旋转体;第1磁传感器;第2磁传感器;相位差计算构件;校正表存储器,存储以不同的速度移动摄像透镜时所获得的多个校正表,所述多个校正表校正在相位差计算构件中计算出的相位差与相位差的设计值之间的差量;相位差校正构件,使用在多个校正表中与摄像透镜的移动速度对应的校正表来校正在相位差计算构件中计算出的相位差;及绝对位置计算构件。
搜索关键词: 摄像 透镜 及其 动作 控制 方法
【主权项】:
一种摄像透镜镜筒,其具备:镜筒主体,将摄像透镜保持为能够沿光轴方向移动;旋转体,随着上述摄像透镜的移动进行旋转,并且沿着周向平行地形成有第1磁标尺及第2磁标尺,上述第1磁标尺及第2磁标尺分别被周期性磁化有不同波长的磁分量;第1磁传感器,通过上述旋转体的旋转,从上述第1磁标尺检测第1相位信号及相位相对于第1相位信号偏离的第2相位信号;第2磁传感器,通过上述旋转体的旋转,从上述第2磁标尺检测第3相位信号及相位相对于第3相位信号偏离的第4相位信号;相位差计算构件,使用在上述第1磁传感器中检测出的第1相位信号及第2相位信号、以及在上述第2磁传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号来计算第1相位信号与第3相位信号的相位差;校正表存储器,存储以不同的速度移动上述摄像透镜时所获得的多个校正表,上述多个校正表校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差与上述相位差的设计值之间的差量;相位差校正构件,使用上述多个校正表中与上述摄像透镜的移动速度对应的校正表来校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差;及绝对位置计算构件,根据通过上述相位差校正构件校正过的相位差和预先规定的相位差与摄像透镜的绝对位置之间的关系来计算上述摄像透镜的绝对位置。
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