[发明专利]物体检测装置有效
申请号: | 201380051913.X | 申请日: | 2013-09-26 |
公开(公告)号: | CN104704321B | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 秋山启子;大塚秀树 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;B60R21/00;G01B17/06;G01B21/00;G01C3/06;G01S13/93;G01S15/93;G01S17/08;G01S17/93;G08G1/16 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 舒艳君,李洋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在物体检测装置(1)中,反射点推断部(S15)使用物体的检测距离的历史与传感器位置的历史,来推断反射波在物体上的反射点(4)。在所述物体的角附近的所述反射点的历史形状中包含较急历史形状(40)时,反射点校正部(S19~S22)将精度低反射点(41)校正为所述物体的角附近的正常反射点(42)或者与该正常反射点处的反射波的到来方向对应的位置。 | ||
搜索关键词: | 物体 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种物体检测装置,其特征在于,具备:距离检测部,向在车辆移动时存在于所述车辆的侧方的物体逐次发送探测波,接收所述探测波碰到所述物体而反射的反射波,基于接收到的反射波来逐次检测到所述物体的距离;位置计算部,计算进行所述物体的距离检测时的所述距离检测部的位置亦即传感器位置;反射点推断部,使用所述距离检测部检测出的距离亦即检测距离的历史和所述传感器位置的历史,来推断所述反射波的到来方向,并推断作为从所述传感器位置沿所述到来方向离开了所述检测距离的量的点的反射点;形状判定部,判定所述物体的角附近的所述反射点的历史形状;以及反射点校正部,在所述历史形状中包含所述物体的面角度较急时产生的较急历史形状时,将属于所述较急历史形状的所述反射点亦即精度低反射点校正为所述角附近的不属于所述较急历史形状的所述反射点亦即正常反射点或者与该正常反射点处的所述到来方向对应的位置。
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