[发明专利]物体检测装置有效

专利信息
申请号: 201380051913.X 申请日: 2013-09-26
公开(公告)号: CN104704321B 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 秋山启子;大塚秀树 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;B60R21/00;G01B17/06;G01B21/00;G01C3/06;G01S13/93;G01S15/93;G01S17/08;G01S17/93;G08G1/16
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 舒艳君,李洋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在物体检测装置(1)中,反射点推断部(S15)使用物体的检测距离的历史与传感器位置的历史,来推断反射波在物体上的反射点(4)。在所述物体的角附近的所述反射点的历史形状中包含较急历史形状(40)时,反射点校正部(S19~S22)将精度低反射点(41)校正为所述物体的角附近的正常反射点(42)或者与该正常反射点处的反射波的到来方向对应的位置。
搜索关键词: 物体 检测 装置
【主权项】:
一种物体检测装置,其特征在于,具备:距离检测部,向在车辆移动时存在于所述车辆的侧方的物体逐次发送探测波,接收所述探测波碰到所述物体而反射的反射波,基于接收到的反射波来逐次检测到所述物体的距离;位置计算部,计算进行所述物体的距离检测时的所述距离检测部的位置亦即传感器位置;反射点推断部,使用所述距离检测部检测出的距离亦即检测距离的历史和所述传感器位置的历史,来推断所述反射波的到来方向,并推断作为从所述传感器位置沿所述到来方向离开了所述检测距离的量的点的反射点;形状判定部,判定所述物体的角附近的所述反射点的历史形状;以及反射点校正部,在所述历史形状中包含所述物体的面角度较急时产生的较急历史形状时,将属于所述较急历史形状的所述反射点亦即精度低反射点校正为所述角附近的不属于所述较急历史形状的所述反射点亦即正常反射点或者与该正常反射点处的所述到来方向对应的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社电装,未经株式会社电装许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380051913.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top