[发明专利]光学频域反射计(OFDR)系统有效

专利信息
申请号: 201380053894.4 申请日: 2013-09-16
公开(公告)号: CN104782063A 公开(公告)日: 2015-07-15
发明(设计)人: J·J·L·霍里克斯;G·W·T·霍夫特;M·J·H·马雷尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071;G01M11/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘瑜;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 提出了一种光学频域反射计(OFDR)系统(100),所述光学频域反射计系统包括第一耦合点(15),所述第一耦合点被布置为将辐射分裂为两部分,使得辐射可以被发射到参考路径(16)以及测量路径(17)中。所述系统还包括光学探测单元(30),所述光学探测单元能够经由所述第二耦合点(25)获得来自从所述参考路径和所述测量路径组合的光学辐射的信号。所述测量路径(17)包括依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS、PDFS、10),所述依赖偏振的光学路径长度移位器可以创建针对在所述测量路径中的所述辐射的第一偏振(P1)和第二偏振(P2),其中,对于所述测量路径中的所述第一偏振(P1)和所述第二偏振(P2)而言,所述光学路径长度不同。这对于获得改进的光学频率反射计(OFDR)系统而言可以是有利的,在所述光学频率反射计系统中,例如,可以在辐射源的相同扫描中执行针对输入偏振的两个测量。
搜索关键词: 光学 反射 ofdr 系统
【主权项】:
一种光学频域反射计(OFDR)系统(100),所述系统包括:‑光学辐射源(5),其能够发射在特定波长带内的光学辐射,所述辐射源光学连接到第一耦合点(15),所述第一耦合点被布置为将所述辐射分裂为两部分,‑参考路径(16),所述参考路径光学连接到所述第一耦合点,‑测量路径(17),所述测量路径光学连接到所述第一耦合点,所述测量路径还包括光学环行器(18),所述环行器光学连接到测量分支(20),所述测量分支被布置为基于反射的辐射进行测量,‑其中,所述参考路径与所述测量路径光学耦合在第二耦合点(25)中,‑光学探测单元(30),其能够经由所述第二耦合点获得来自从所述参考路径和所述测量路径组合的光学辐射的信号,‑其中,所述测量路径(17)包括依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS、PDFS、10),所述移位器具有引起或创建针对在所述测量路径中的所述辐射的第一偏振(P1)和第二偏振(P2)的功能,所述第一偏振(P1)不同于所述第二偏振(P2),并且其特征在于,‑所述移位器还具有使得针对在所述测量路径中的所述第一偏振(P1)的所述光学路径长度相对于针对在所述测量路径中的所述第二偏振(P2)的所述光学路径长度不同的功能,所述测量分支(20)包括光纤,所述光纤被布置为提供沿所述光纤的感测长度(ls)的针对OFDR的反射,并且其中,所述依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS)还被布置使得在反射谱中的所述第一偏振(P1)与所述第二偏振(P2)之间的光学路径长度差(ΔPDOS)被选择为避免在所述反射谱中的所述第一偏振(P1)与所述第二偏振(P2)之间的交叠。
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