[发明专利]用于大分析物阵列的图像捕获在审

专利信息
申请号: 201380054608.6 申请日: 2013-10-17
公开(公告)号: CN104937401A 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: J·巴里奇;R·勒迈尔-阿德金斯;D·尼兹;A·诺特柯维奇;P·帕特;R·肖特;S·史沃特;E·思拉什 申请(专利权)人: 生物辐射实验室股份有限公司
主分类号: G01N27/26 分类号: G01N27/26;G01N27/447;G06K9/36
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李玲
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 通过形成整个阵列的子图像且通过基于计算机的拼接技术将所述子图像拼接在一起,或者通过利用与分析物阵列同延的薄膜光敏元件阵列形成阵列的单幅图像,对诸如电泳后厚板型凝胶中的溶质的分析物阵列并且尤其是超过3cm2且直到25cm2和更高的分析物阵列以5cm或更小的距离进行成像。
搜索关键词: 用于 分析 阵列 图像 捕获
【主权项】:
一种分析多个分析物的方法,所述分析物是可通过光发射检测的并且被设置在由平面基质支撑的二维阵列中,所述平面基质的长度、宽度或长度和宽度两者具有大约3cm的最小值,所述方法包括:(a)将所述平面基质放置在检测器的5cm之内,所述检测器选自由以下组成的组:(1)多个固态图像传感器,所述多个固态图像传感器被设置在传感器阵列中并且每个固态图像传感器被定位以形成所述基质的一段的子图像从而使得所述段共同地覆盖所述整个基质,以及计算机,所述计算机用于根据所述图像传感器在所述传感器阵列中的位置对在每个图像传感器处形成的子图像进行组装以形成所述平面基质的图像,整体上作为所述子图像的合成物,以及(2)设置在一阵列中的多个光敏元件,所述阵列是至少基本上与所述基质同延的,薄膜寻址电路,所述薄膜寻址电路控制所述光敏元件累积能量并控制从所述光敏元件释放能量,以及数据存储介质,所述数据存储介质将从所述光敏元件释放的能量与所述平面基质上的位点进行关联并且整体上从如此释放的所述能量形成所述平面基质的图像;以及(b)以补偿或消除跨越不代表二维的分析物阵列的所述平面基质图像的光强中的任何不规则的方式整体上由所述检测器产生所述平面基质图像;以及(c)从如此生成的所述平面基质图像对所述分析物进行分析。
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