[发明专利]用于操作电气设备的方法和电气设备有效

专利信息
申请号: 201380057447.6 申请日: 2013-09-04
公开(公告)号: CN104756217B 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: T.A.鲍尔;A.克拉梅;E.基尔勒;J.曼蒂拉;M-S.克拉伊斯森斯;S.格罗布;H.布兰德勒;O.科萨特;M-D.布尔格勒 申请(专利权)人: ABB技术有限公司
主分类号: H01H33/56 分类号: H01H33/56;H01H33/22;G01N21/75
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 叶晓勇,姜甜
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开用于操作流体绝缘电气设备(1)的方法和装置。电气设备(1)的绝缘流体(10)包括至少两个流体成分(A,B),其是绝缘流体(10)的先验组分。该方法包括对绝缘流体(10)执行至少一个光学测量和/或至少一个气体色谱测量的步骤。使用对绝缘流体(10)的这个测量或者这些测量或者至少一个附加测量,得出第一流体成分(A)的第一浓度(cA)和第二流体成分(B)的第二浓度(cB)。然后,使用第一浓度(cA)和第二浓度(cB)以及有利的绝缘流体(10)的介电击穿强度Ebd,来得出电气设备(1)的操作状态(O)。
搜索关键词: 用于 操作 电气设备 方法
【主权项】:
一种用于操作流体绝缘电气设备(1)的方法,其中所述电气设备(1)的至少一个间隔(11)中的绝缘流体(10)包括至少第一流体成分(A)和至少第二流体成分(B),所述方法包括执行下列方法要素:‑ 对所述绝缘流体(10)执行至少一个光学测量,并且使用所述光学测量来得出所述第一流体成分(A)的第一浓度(cA),和/或‑ 执行至少一个气体色谱测量,并且使用所述气体色谱测量来得出所述第一流体成分(A)的第一浓度(cA),‑ 得出所述第二流体成分(B)的第二浓度(cB),‑ 其中所述第一流体成分(A)和所述第二流体成分(B)不是污染物,以及‑ 执行所述光学测量和/或所述气体色谱测量、得出所述第一浓度(cA)以及得出所述第二浓度(cB)的所述方法要素对所述电气设备(1)的多个间隔(11)来执行,并且其中所述第一浓度(cA)和所述第二浓度(cB)对所述间隔(11)的每个来得出,‑ 执行所述光学测量的所述方法要素由至少一个光学传感器(20)来执行,和/或执行所述气体色谱测量的所述方法要素由至少一个气体色谱仪(30)来执行,以及光学传感器(20)和气体色谱仪(30)的总数小于或等于所述间隔(11)的总数,‑ 所述方法还包括由控制单元(40)使用各间隔(11)中的所述第一流体成分(A)所述第一浓度(cA)和所述第二流体成分(B)的所述第二浓度(cB)来得出所述电气设备(1)的操作状态(O)的方法要素,所述方法还包括执行下列方法要素‑ 按照下式、使用所述第一浓度(cA)并且使用所述第二浓度(cB)来得出所述绝缘流体(10)的介电击穿强度Ebd其中Ecrit,A和Ecrit,B是所述第一流体成分(A)和所述第二流体成分(B)的临界场强度;cA是所述第一流体成分(A)的所述第一浓度,cB是所述第二流体成分(B)的所述第二浓度;S(cA, cB)是协同参数;以及i是所述第一流体成分(A)和所述第二流体成分(B)的索引,并且其中所述操作状态(O)使用所述绝缘流体(10)的所述介电击穿强度Ebd来得出。
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