[发明专利]电压测量有效
申请号: | 201380058364.9 | 申请日: | 2013-11-08 |
公开(公告)号: | CN104871012B | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
发明(设计)人: | J·E·D·赫维茨;S·A·A·达内斯 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体集团 |
主分类号: | G01R15/04 | 分类号: | G01R15/04;G01R19/02;G01R21/133 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 百慕大群岛;BM |
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摘要: | 本发明涉及一种电压测量装置(470)。所述电压测量装置(470)包括被配置为第一和第二导体(206,208)之间电连接的电位衰减器,所述第一和第二导体电耦合到源(202)。所述电位衰减器包括彼此串联的第一阻抗(210)和基准阻抗装置(472)。所述基准阻抗装置具有以已知方式改变的电特性。所述电压测量装置(470)进一步包括处理装置(220,406),被配置以从基准阻抗装置(472)获取至少一个信号,所述至少一个信号反映电特性以已知方式的变化;并依赖其中所述电特性变化已知的方式和所述至少一个信号而确定第一和第二导体(206,208)之间的电压。电压测量装置也被配置使得偏置电压施加到基准阻抗装置(472)。 | ||
搜索关键词: | 电压 测量 | ||
【主权项】:
1.一种电压测量装置,包括:第一电位衰减器,被配置为电连接在第一导体和第二导体之间,所述第一导体和所述第二导体被电耦合到电源,所述第一电位衰减器包括彼此串联的第一阻抗和第一基准阻抗装置,所述第一基准阻抗装置具有以已知方式变化的电特性;和处理装置,被配置为:从所述第一基准阻抗装置获取至少一个信号,所述至少一个信号反映电特性以所述已知方式的变化;并依赖于已知的所述电特性变化的方式和所述至少一个信号而确定第一导体和第二导体之间的电压,其中所述第一基准阻抗装置包括与所述第一阻抗连接的第二阻抗以及与所述第一导体和所述第二导体之一连接并连接到所述第二阻抗的电路,并且其中所述电路被配置使得调制的偏移电压被提供到所述第二阻抗。
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