[发明专利]用于映射期间的电极接触的实时反馈在审

专利信息
申请号: 201380066525.9 申请日: 2013-12-20
公开(公告)号: CN104869889A 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 巴伦·马斯卡巴;普拉莫德辛格·H·塔库尔;尚塔·阿科特-克里什纳穆尔第;希巴吉·肖梅;苏尼帕·萨哈;艾伦·C·舒罗斯;斯科特·A·迈耶 申请(专利权)人: 波士顿科学医学有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;A61B5/042;A61B5/0424;A61B5/107;A61B18/14
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 杨生平;钟锦舜
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种导管系统,包括具有多个映射电极的映射导管,每个映射电极构造为感测与解剖结构相关联的信号。所述导管系统还包括处理器,其可操作地耦接至所述多个映射电极并且构造为接收由所述多个映射电极感测到的信号,基于感测到的信号的幅度来表征由所述多个映射电极感测到的信号并基于信号的表征来产生所述多个映射电极与所述解剖结构的接触的质量的输出。
搜索关键词: 用于 映射 期间 电极 接触 实时 反馈
【主权项】:
一种导管系统,包括:映射导管,其包括多个映射电极,其中,每个映射电极构造为感测与解剖结构相关联的信号;以及处理器,其可操作地耦接至所述多个映射电极并且构造为接收由所述多个映射电极感测到的信号,其中,所述处理器还被构造为基于感测到的信号的幅度来表征由所述多个映射电极感测到的信号并基于信号的表征来产生所述多个映射电极与所述解剖结构的接触的质量的输出。
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