[发明专利]使用高温计对锥形灯头内的灯进行的多区域控制有效
申请号: | 201380068121.3 | 申请日: | 2013-11-15 |
公开(公告)号: | CN104871299B | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 约瑟夫·M·拉内什;保罗·布里尔哈特;乔斯·安东尼奥·马林;萨瑟施·库珀奥;巴拉苏布拉马尼恩·拉马钱德雷;斯瓦米纳坦·T·斯里尼瓦桑;穆罕默德·图格鲁利·萨米尔 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 描述了一种用于处理半导体基板的方法与设备。所述设备是具有光学透明的上拱形结构与下拱形结构的处理腔室。在处理过程中,处理腔室维持真空。通过沿着处理区域外的上拱形结构流动热控制流体来热控制上拱形结构。热灯被定位成靠近下拱形结构,热传感器被设置在灯之间。灯以区域供电,控制器根据从热传感器接收的数据来调整供至各灯区的功率。 | ||
搜索关键词: | 使用 高温 锥形 灯头 进行 区域 控制 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理设备,包括:真空腔室,所述真空腔室包含透明拱形结构与透明底板;盘状基板支撑件,所述基板支撑件设置在所述真空腔室内;多个热灯,所述多个热灯布置在灯头中并定位成靠近所述真空腔室的所述透明底板,其中所述灯头具有在所述灯之间的冷却通道;多个热传感器,所述多个热传感器设置在所述灯头的所述冷却通道中并被定向以接收来自靠近所述基板支撑件的区域的热辐射;多个电源,所述多个电源耦接至与所述热传感器的位置相关的所述热灯;及控制器,所述控制器根据来自所述热传感器的输入来调整所述电源。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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