[发明专利]测试插座及插座构件有效
申请号: | 201380068495.5 | 申请日: | 2013-12-27 |
公开(公告)号: | CN104884964A | 公开(公告)日: | 2015-09-02 |
发明(设计)人: | 李载学 | 申请(专利权)人: | 株式会社ISC |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/067;H01L21/66 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨文娟;臧建明 |
地址: | 韩国京畿道城南市中院*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及一种测试插座,更详细而言,涉及用以分别电性连接测试目标装置的端子与测试装置的接垫的一种测试插座,包括其中心备有一中心孔洞以使测试目标装置的端子穿过插座导引且其下表面备有导引凸起的插座导引以及配置于插座导引与测试装置之间的插座构件,插座构件包括备有配置于对应于测试目标装置的端子的位置且电性连接测试目标装置的端子与测试装置的接垫的连接部的导电区以及从导电区的边缘延伸且支撑导电区的支撑区,支撑区包括容纳导引凸起以使插座构件相对于测试装置的位置被决定的导引孔洞以及将容纳于导引孔洞中的导引凸起向导引孔洞的内表面一侧的弹性加压的弹性加压构件。 | ||
搜索关键词: | 测试 插座 构件 | ||
【主权项】:
一种测试插座,用以分别电性连接测试目标装置的端子与测试装置的接垫,所述测试插座的特征在于包括:插座导引,其中心备有中心孔洞,以使所述测试目标装置的所述端子穿过所述插座导引,且所述插座导引的下表面备有导引凸起;以及插座构件,配置于所述插座导引与所述测试装置之间,其中所述插座构件包括:导电区,备有连接部,所述连接部配置于与所述测试目标装置的所述端子对应的位置且电性连接所述测试目标装置的所述端子与所述测试装置的所述接垫;以及支撑区,从所述导电区的边缘延伸且支撑所述导电区,其中所述支撑区包括:导引孔洞,容纳所述导引凸起,以使所述插座构件相对于所述测试装置的位置被决定;以及弹性加压构件,将容纳于所述导引孔洞中的所述导引凸起向所述导引孔洞的内表面一侧弹性加压。
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