[发明专利]分光测定装置、分光测定方法及试样容器有效
申请号: | 201380072255.2 | 申请日: | 2013-09-17 |
公开(公告)号: | CN104969061B | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 铃木健吾;井口和也;江浦茂;池村贤一郎 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01J3/443;G01N21/01;G01N21/03 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置,包含光源,其产生激发光;积分器,其具有入射激发光的入射开口部、及射出被测定光的射出开口部;收纳部,其配置于积分器内,且收纳试样;入射光学系统,其使激发光入射至试样;光检测器,其检测自射出开口部射出的被测定光;及解析单元,其基于由光检测器检测出的检测值,计算试样的量子产率;激发光以包含(内包)试样的方式被照射于该试样。 | ||
搜索关键词: | 分光 测定 装置 方法 试样 容器 | ||
【主权项】:
一种分光测定装置,其特征在于,是对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置,包含:光源,其产生所述激发光;积分器,其具有入射所述激发光的入射开口部、及射出所述被测定光的射出开口部;收纳部,其配置于所述积分器内,且收纳所述试样;入射光学系统,其使所述激发光入射至所述试样;光检测器,其检测自所述射出开口部射出的所述被测定光;及解析单元,其基于由所述光检测器检测出的检测值,计算所述试样的量子产率,所述激发光以使所述激发光的照射面积大于所述试样的被照射面积且包含所述试样的方式照射于该试样。
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