[发明专利]使用基于卷积/反卷积的评估的轮胎均匀性改良有效
申请号: | 201380074465.5 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN105143845B | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | W·D·玛弗布伊;J·M·特雷勒 | 申请(专利权)人: | 米其林集团总公司 |
主分类号: | G01M17/02 | 分类号: | G01M17/02 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司11314 | 代理人: | 程伟,王锦阳 |
地址: | 法国克莱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供用于使用基于卷积/反卷积的轮胎均匀性参数评估来改良轮胎均匀性的系统和方法。举例来说,卷积可用于由一个或多个均匀性参数测量值,包括径向偏心参数测量值评估径向力变化。反卷积可用于由一个或多个均匀性参数测量值,包括径向力变化参数测量值评估径向偏心。可使用一个或多个模型由均匀性参数测量值评估所评估的均匀性参数。一个或多个模型可表示在离散测量点处评估的径向均匀性参数,其呈离散测量点和一个或多个所选择的靠近离散测量点的测量点处所测量的径向均匀性参数的加权和形式。可基于轮胎的接触面长度选择测量点。 | ||
搜索关键词: | 使用 基于 卷积 评估 轮胎 均匀 改良 | ||
【主权项】:
一种用于改良轮胎均匀性的方法,其包含:获得所述轮胎周围的多个测量点的所测量的径向均匀性参数;建立使所述轮胎的径向偏心与所述轮胎的径向力变化相关联的模型,所述模型将在轮胎上的离散测量点处评估的径向均匀性参数相关联,其呈离散测量点和一个或多个所选择的靠近离散测量点的测量点处所测量的径向均匀性参数的加权和形式;和使用所述模型,用计算装置确定所述轮胎的至少一个离散测量点的所评估的径向均匀性参数;其中至少部分地基于靠近所述轮胎上所述离散测量点的一个或多个测量点的所述所测量的径向均匀性参数来确定所述至少一个离散测量点的所述所评估的均匀性参数。
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