[发明专利]检测物质的设备和制造这样的设备的方法有效
| 申请号： | 201380076209.X | 申请日： | 2013-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN105143859B | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | 李智勇;葛宁;S.J.巴塞罗;郭惠沛 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01N27/00;B82B1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 申屠伟进;张涛 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了检测物质的设备和制造这样的设备的方法。检测物质的示例设备包括限定第一腔室的外壳和耦接到外壳的衬底。衬底包括位于第一腔室内的纳米结构。该纳米结构用于在暴露于物质时对该物质作出反应。设备包括位于第一腔室内的第一加热器。该加热器用于加热物质的至少一部分以使设备准备好用于分析。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 物质 设备 制造 这样 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测物质的设备，包括：外壳，限定第一腔室；衬底，耦接到所述外壳，所述衬底包括位于所述第一腔室内的纳米结构，所述纳米结构用于当暴露于物质时对所述物质作出反应；以及第一加热器，位于所述第一腔室内，所述加热器用于加热所述物质的至少一部分以使所述设备准备好用于分析;其中所述纳米结构包括柱形结构，所述柱形结构从衬底延伸并且响应于所述物质的蒸发而被拖拉在一起;其中所述外壳是导电的，从而使得所述外壳能够充当用于采样的电子端子；其中所述衬底包括表面增强拉曼光谱法衬底、自激表面增强拉曼光谱法衬底、增强荧光光谱法衬底或增强发光光谱法衬底中的至少一个。
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