[发明专利]用于分析轮胎面参数的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201380077565.3 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN105308653B 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: X·内奥 申请(专利权)人: 米其林集团总公司
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00;G01P3/00;G01C9/00
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 法国克莱*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 提供用于分析踏面数据以评估轮胎面参数的系统和方法,所述轮胎面参数例如轮胎面的不规律磨损特征。例如,可以处理踏面数据(例如,踏面映射)以产生所述轮胎的凸包。所述凸包可以近似所述轮胎的凸外表面。所述凸包可以用作用于分析所述踏面数据的参考。具体来说,所述轮胎面中的不规律磨损区域可以相对于所述凸包在数学上凹入。将所述踏面数据与所述凸包进行比较可以显示指示所述轮胎的不规律磨损特征的信息。举例来说,所述所测得的踏面数据相对于所述凸包的局部深度可以提供所述轮胎的不规律磨损特征的数量测量值。
搜索关键词: 用于 分析 轮胎 参数 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于分析踏面数据以评估轮胎胎面的一个或多个参数的方法,其包括:获得所述轮胎的所述胎面的踏面映射,所述踏面映射包括多个数据点,每个数据点提供所述轮胎的所述胎面的胎面高度;通过计算装置处理所述踏面映射以产生所述踏面映射的凸包,所述凸包包括包覆所述踏面映射的三维壳层,在围绕所述凸包的所有点处所述凸包是凸面的;通过所述计算装置至少部分地基于所述踏面映射和所述凸包确定相对胎面深度映射;以及分析所述相对胎面深度映射以评估所述轮胎的所述胎面的一个或多个参数。
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